工欲善其事，必先利其器。我們能在光纖網(wǎng)路維護(hù)中引入各類光纖測(cè)試儀，這本身也是印證了技術(shù)的不斷發(fā)展，回想10M、100M光纖的網(wǎng)絡(luò)鏈路，幾乎不需要怎么測(cè)試，就可以放心使用。

隨著技術(shù)的發(fā)展，光纖對(duì)損耗的要求越來越嚴(yán)格，10G的網(wǎng)絡(luò)要求總的光纖鏈路損耗控制在2.6dB以下，而10M和100M的網(wǎng)絡(luò)光纖損耗要求相對(duì)來說會(huì)寬松很多，這就使得在原先的網(wǎng)絡(luò)中光纖鏈路幾乎很容易就可以實(shí)施運(yùn)行。但如果速率提升至1G和10G時(shí)，原先的*小損耗就不一定能適用于新的應(yīng)用，需要用光纖測(cè)試對(duì)損耗參數(shù)進(jìn)行量化測(cè)試，以判定是否能夠支持標(biāo)準(zhǔn)要求。另外，高速率網(wǎng)絡(luò)對(duì)光纖本身也提出了要求，光纜也分成了不同的類別，為了提高速率，需要光纖本身支持更高的模式帶寬，尤其是對(duì)于廣泛應(yīng)用于局域網(wǎng)中的多模光纖如表1所示，不同的模式帶寬（MBW）對(duì)應(yīng)的鏈路長(zhǎng)度有所不同，而它們對(duì)應(yīng)的*大損耗也是有差異的，換句話說，僅有損耗合格也不能保證被測(cè)鏈路可以支持10G網(wǎng)絡(luò)，還必須有相對(duì)應(yīng)的模式帶寬。

除了上述提到的損耗、長(zhǎng)度、模式帶寬，還有需要注意色散，我們的交換機(jī)接口光源很多已經(jīng)從LED光源改為VCSEL光源，就是為了降低色散，避免信號(hào)被過度展寬，同樣運(yùn)用在測(cè)試中，為了更真實(shí)的評(píng)測(cè)光纜的性能，對(duì)于50μm的光纖，建議測(cè)試中也采用VCSEL的光源進(jìn)行測(cè)試。

*后，還需要注意的是事件故障分析，有的故障是由于光纖上的一部分造成的，如耦合器匹配不良，彎曲過大，針對(duì)這類事件型的故障，需要做定位，簡(jiǎn)單的測(cè)試損耗就不行了，需要配合OTDR測(cè)試儀，對(duì)事件點(diǎn)進(jìn)行定位。

因此，如果要用好光纖測(cè)試儀，真正發(fā)揮它的效能，在應(yīng)用測(cè)試儀的時(shí)候還需要掌握一些使用方式。

選用正確的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、元件標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)。如果清楚當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用，如被測(cè)鏈路是運(yùn)行1000Base-SX的，那么采用應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)試，如果不清楚應(yīng)用情況，那么采用元器件標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)試，如ISO和TIA中的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)；

注意模式帶寬。在升級(jí)鏈路時(shí)，需要考慮一下當(dāng)前使用的光纜是否滿足*低模式帶寬的要求；

選用正確的光源。測(cè)試時(shí)選用光源*好與網(wǎng)絡(luò)實(shí)際使用的光發(fā)射端口光源一致；

視測(cè)試要求，決定選用哪一級(jí)的測(cè)試，TSB-140標(biāo)準(zhǔn)定義了兩種類別的測(cè)試，類別一是OLTS測(cè)試，即光源光功率計(jì)的測(cè)試方式，類別二是OTDR測(cè)試，即光時(shí)域反射，單端測(cè)試。類別一適用于光損耗的測(cè)試，類別二適用于光纖故障的定位測(cè)試。